高速3D激光共聚焦顯微鏡

NS-3500是一種可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過(guò)快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法實(shí)現實(shí)時(shí)共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀(guān)三維結構，如半導體晶片，FPD產(chǎn)品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等方面擁有優(yōu)質(zhì)的解決方案。?

所屬分類(lèi):

科學(xué)儀器

激光共聚焦顯微鏡

貨號:

規格:

按鈕1,按鈕2,按鈕3

計量單位:

品牌:

交貨周期:

3 months

產(chǎn)品描述

NS3500三維激光共聚焦顯微鏡

Features & Benefits（性能及優(yōu)勢）：

高分辨無(wú)損傷光學(xué)3D測量自動(dòng)傾斜補償
實(shí)時(shí)共焦成像簡(jiǎn)單的數據分析模式
多種光學(xué)變焦雙Z掃描

大范圍拼接半透明基材的特征檢測
實(shí)時(shí)CCD明場(chǎng)和共聚焦成像無(wú)樣品準備
自動(dòng)聚焦

Software (軟件）：

Software

Application field（應用領(lǐng)域）：

NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

可測量微米和亞微米結構的高度，寬度，角度，面積和體積，例如

-半導體:IC圖形，凹凸高度，線(xiàn)圈高度，缺陷檢測，CMP工藝

- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測，ITO圖案，LCD柱間距高度

- MEMS器件:結構三維輪廓，表面粗糙度，MEMS圖形

-玻璃表面:薄膜太陽(yáng)能電池，太陽(yáng)能電池紋理，激光圖案

-材料研究:模具表面檢測，粗糙度，裂紋分析

應用領(lǐng)域

Specification (規格）：

Model	Microscope NS-3500						備注
	Controller NS-3500E
物鏡倍率		10x	20x	50x	100x	150x
觀(guān)察/ 測量范圍	水平 (H): μm	1400	700	280	140	93
	垂直 (V): μm	1050	525	210	105	70
工作范圍: mm		16.5	3.1	0.54	0.3	0.2
數值孔徑(N.A.)		0.30	0.46	0.80	0.95	0.95
光學(xué)變焦		x1 to x6
總放大倍率		178x to 26700x
觀(guān)察/測量光學(xué)系統		針孔共聚焦光學(xué)系統
高度測量	測量掃描范圍	精細掃描 : 400 μm (and/or) 長(cháng)掃描 : 10 mm [NS-3500-S]					注 1
		長(cháng)掃描 : 10mm [NS-3500-T]
	顯示分辨率	0.001 μm
	重復率 σ	0.010 μm					注 2
寬度測量	顯示分辨率	0.001 μm
	重復率 3σ	0.02 μm					注 3
幀記憶	像素	1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96
	單色圖像	12 bit
	彩色圖像	8-bit for RGB each
	高度測量	16 bit
幀速率	表面掃描	20 Hz to 160 Hz
	線(xiàn)掃描	~8 kHz
自動(dòng)功能		自動(dòng)增益
激光共焦測量光源	波長(cháng)	405nm
	輸出	~2mW
	激光等級	Class 3b
激光接收元件		PMT (光電倍增管)
光學(xué)觀(guān)察光源	燈	10W LED
光學(xué)觀(guān)察照相機	成像元件	1/2” 彩色圖像 CCD 傳感器
	記錄分辨率	640x480
	自動(dòng)調整	增益, 快門(mén)速度, White balance
數據處理單元		PC
電源	電壓	100 to 240 VAC, 50/60 Hz
	電流	500 VA max.
重量	顯微鏡	Approx. ~50 kg (Measuring head unit : ~12 kg)
	控制器	~8 kg
隔振系統		電子隔振器					Option